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描述:XS105DU梅特勒電子天平自動校準技術(FACT) - 溫度漂移觸發(fā)的天平自動內校,內置兩組砝碼實現(xiàn)線性誤差校準,確保稱量結果的性.
品牌 | Mettler Toledo/梅特勒托利多 |
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XS105DU梅特勒電子天平
XS超越系列型分析天平
超越系列分析天平展示世界的稱量性能、的符合人體工學的操作體驗及的數(shù)據(jù)管理解決方案。它們遵循行業(yè)法規(guī)的要求,確保更高的生產(chǎn)效率并使操作更安全。
XS105DU梅特勒電子天平 特點:
* 采用高精度、高分辨率后置式傳感器,獲得稱量結果
* 全自動校準技術(FACT) - 溫度漂移觸發(fā)的天平自動內校,內置兩組砝碼實現(xiàn)線性誤差校準,確保稱量結果的性
* 變量程設計(DeltaRange)和雙量程(DualRange)設計,滿足客戶對不同樣品的稱量需求
* 的網(wǎng)格稱量盤(SmartGrid)、懸浮在稱量室中的后掛稱量設計,獲得快速、穩(wěn)定的稱量結果
* 易巧稱量組件(ErgoClips),方便客戶使用不同去皮容器進行稱量
* 觸摸屏技術(Touch screen),方便天平稱量菜單和參數(shù)設置
* 可移動的顯示控制終端,方便天平使用
* 可拆卸的防風罩設計,實現(xiàn)天平的快速清潔
* 內置RS232通訊接口,方便連接打印機、電腦等外圍設備
* 優(yōu)化天平適應性的稱量參數(shù)設置,滿足不同稱量環(huán)境要求
* 具有簡單稱量、統(tǒng)計稱量、公式稱量、密度測定等內置應用程序
* e-Loader II軟件,實現(xiàn)更便捷的天平軟件更新
瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒 技術參數(shù):
量程 雙量程
可讀性 0.01/0.1mg
zui大稱量值 41/120g
zui大稱量值重復性(s) 0.1mg
10g重復性(s) 0.02mg
線性 ±0.2mg
1/2zui大稱量1)四角誤差 0.3mg
靈敏度漂移 0.0004%
靈敏度溫度漂移2) 0.00015%/℃
靈敏度穩(wěn)定性3) 0.0002%/a
典型稱量時間4) 6s
接口更新速率 23/s
防風罩有效高度(mm) 235
秤盤尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322
1)按照OIML76標準 2)溫度范圍10 …30℃ 3)靈敏度漂洗/年(天平*使用后),激活FACT全自動校準技術 4)包括樣品處理時間設置
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